深度剖析高温反偏(HTRB)可靠性测试的原理与应用
一、HTRB测试的核心原理
HTRB的本质是一个“加速应力实验”:
在高温环境中,对半导体PN结施加接近或略低于额定值的反向电压,观察其漏电与击穿特性的变化。
典型条件:
温度:125°C / 150°C / 175°C(SiC甚至更高)
反向电压:80%~100% VRRM(重复峰值反向电压)
时间:24h ~ 1000h(甚至更长)
湿度:通常干燥(区别于THB)
二、为什么“高温 + 反偏”有效?
HTRB的加速机理来自两个关键物理效应:
1. 温度加速载流子行为
温度升高会导致:
本征载流子浓度增加
反向饱和电流指数增长
缺陷能级更容易参与导电


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