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PCB生产制造中银层缺陷应对措施

 

更新时间:2025-12-04 09:52:01

晨欣小编

PCB生产制造中银层缺陷应对措施

一、常见银层缺陷与主要成因

  1. 银层发黑/硫化(tarnish)

    • 空气中含硫(如H₂S)或接触含硫物质(橡胶手套、纸板、包装材料)。

    • 水洗不彻底或干燥不充分导致残留化学物质。

  2. 银层厚度不均 / 局部露铜

    • 槽液搅拌不均、温度分布不匀。

    • 前处理残留油污或氧化物阻碍沉积。

    • 挂板位置不合理或板距过密。

  3. 针孔、颗粒、粗糙或银斑

    • 清洗不到位、有机残留、沉银液污染或浓度异常。

    • 表面电化学反应导致局部沉积异常。

  4. 可焊性下降 / 多次回流失效

    • 银层太薄(通常0.1–0.4 μm)。

    • 多次高温回流导致银层破坏、氧化铜暴露。

  5. 电迁移 / 银枝晶

    • 在潮湿和带电条件下,银离子迁移形成导电通路,影响绝缘性能。


二、检测与判定流程

  1. 外观检测:目视或显微镜观察发黑、斑点、针孔、露铜等缺陷。

  2. 厚度检测:采用XRF测厚仪测量,常规范围为0.1–0.4 μm。

  3. 可焊性测试:通过手焊或回流样板验证焊锡润湿性。

  4. 离子污染测试:检测清洗残留是否超标。

  5. 环境加速试验:湿热、盐雾、高温老化等,用于验证抗硫化性能。


三、短期修复措施

  1. 轻度硫化/发黑

    • 使用专用银清洁剂或微磨清洗表面。

    • 清洗后立即干燥并涂防硫保护剂或真空包装。

  2. 局部露铜/厚度不足

    • 小面积可用局部化学沉银或镀锡修补。

    • 大面积露铜应返工至前道工序重新处理。

  3. 针孔/颗粒

    • 使用去离子水超声清洗并干燥。

    • 若由工艺问题引起,应调整前处理或更换沉银液。

⚠️注意:任何修复后必须重新检测厚度与可焊性。


四、长期防止复发的工艺控制要点

1. 前处理控制

  • 去油、除氧化物、适度微蚀,确保铜面洁净。

  • 防止显影残胶或阻焊残留造成沉银不均。

2. 沉银液维护

  • 严控pH、温度和银离子浓度。

  • 定期过滤与更换,保持槽液清洁。

  • 确保液流均匀、槽内温差≤2℃。

3. 设备与挂具优化

  • 垂直挂板、间距≥2 cm。

  • 避免气泡与死角,防止局部流动不畅。

4. 材料与环境防硫控制

  • 使用无硫包装材料(PE膜、真空袋)。

  • 禁用橡胶手套和含硫纸箱。

  • 存储区安装除硫过滤装置或活性炭吸附剂。

5. 回流与热应力管理

  • 避免多次高温回流,尽量缩短焊接间隔。

  • 对多回流工艺的产品考虑采用ENIG或OSP替代。

6. 包装与储存

  • 真空或惰性气体密封包装,内置防硫剂与干燥剂。

  • 控制仓储温湿度,建议≤25℃、湿度<60%。

  • 保质期一般不超过12个月。

7. 化学品与供应商管理

  • 选择抗硫化、抗电迁移性能稳定的沉银药水。

  • 要求化学品供应商提供批次检测报告。


五、质量控制与监测看板建议

项目控制参数检测频率允许范围备注
槽液温度45±2℃每班±2℃多点监控
槽液pH6.5~7.5每班±0.2使用pH计
银离子浓度工艺要求每日±5%滴定法
槽液搅拌速率≥0.8 m/s每班-确保均匀流动
沉银厚度0.1–0.4 μm每批±15%XRF测厚
可焊性合格每批-试焊样板
表面外观无黑斑、针孔每板-目检或显微镜

六、标准SOP流程(沉银段)

  1. 前处理:去油→除氧化→微蚀。

  2. 冲洗:去离子水≥3次,最后一次电导率<1 μS/cm。

  3. 沉银:垂直挂板,间距≥2 cm,搅拌均匀,控制温度与时间。

  4. 冲洗与干燥:出槽后立即DI水冲洗→80℃热风干燥5分钟。

  5. 检测与包装:XRF测厚、可焊性抽检→真空封装+干燥剂。


七、快速问题处理建议

现象可能原因处理措施
银层发黑硫化、存放过久清洗+抗硫包装
局部露铜厚度不均、前处理不良返工重新沉银
焊接不良银层过薄或污染检测厚度、改善清洗
表面颗粒槽液污染或悬浮物过滤槽液、加强前处理
电迁移失效湿度高、偏压运行改善密封与涂覆防护

八、结语

银层(沉银)在PCB表面处理工艺中兼顾平整度与焊接性,但其抗硫化与耐多次回流性能较弱,因此必须从源头的工艺控制、材料选择、环境管理与包装储存等多方面入手。
通过规范化的SOP与质量监控体系,可显著减少银层发黑、露铜、针孔等缺陷,确保产品长期可靠性。


 

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